E prinsipio di detekshon di ekipo di detekshon optiko ta prinsipalmente basá riba e karakterístikanan di lus i fenómenonan optiko.
Luz tin propiedadnan di onda y particula, cu ta permiti’e interactua cu obhetonan y genera varios señal detectabel. Prinsipionan komun di detekshon optiko ta inkluí:
Principio di reflexion: Ora luz dal den e superficie di un obheto, e lo refleha. Obhetonan ku diferente material i estadonan di superfisie tin diferente karakterístika manera e intensidat i angulo di lus reflehá. Dor di detektá e karakterístikanan aki di lus reflehá, e kalidat di superfisie, forma, tamaño i otro informashon di e opheto por wòrdu husgá. Por ehèmpel, un sensor fotoeléktriko ta wòrdu usá pa detektá e kambio den e intensidat di lus reflehá riba e superfisie di un opheto pa determiná si e opheto tin defekto òf fayo.
Principio di refraccion: Ora luz drenta di un medio pa otro, e lo refracta, y e angulo di refraccion ta relaciona cu e indice di refraccion di e medio. Dor di midi e ángulo di e lus refrakshoná òf e kambio den e índise di refrakshon, e propiedatnan material, diki, etc. di e opheto por wòrdu determiná. Por ehempel, den e inspeccion di calidad di glas optico, e uniformidad y e indice di refraccion di e glas ta wordo evalua door di midi e angulo di refraccion di e luz ora e pasa den e glas.
Prinsipio di interferensia: Ora dos rayo di lus koherente topa, interferensia ta sosodé, formando frente di interferensia di lus i skuridat. Dor di opservá e forma i espasio di frente di interferensia, e opheto su mikro-displasamentu, flatness, etc. Den algun instrumentonan di midimentu optiko di optika di interferensia, manera mikroskopnan di interferensia, e prinsipio di interferensia ta wòrdu usá pa midi e morfologia di superfisie di ophetonan.
Principio di difraccion: Ora luz pasa den obstaculonan manera buraco chikito of rand, e lo difracta, y e patronchi di difraccion ta relaciona cu e forma y tamaño di e obstaculo. Dor di analisá e patronchi di difrakshon, e struktura i informashon di tamaño di e opheto por wòrdu inferí. Por ehèmpel, den teknologia di difrakshon di X- di dje, e fenómeno di difrakshon di X{{3} nan ta wòrdu usá pa analisá e struktura di kristalnan.
Prinsipio di absorshon: Diferente supstansia tin diferente karakterístika di apsorshon pa lus. Algun supstansia ta apsorbé lus di un longitud di onda spesífiko i ta presentá un koló òf transmishon spesífiko. Dor di detektá e absorshon di lus, por determiná e komposishon i konsentrashon di e supstansia. Por ehèmpel, den analisis kímiko, un UV{{3}›espektrofotometer visibel ta wòrdu usá pa midi e apsorshon di un supstansia dor di un longitud di onda spesífiko pa determiná e kontenido di e supstansia.
En corto, ekiponan di deteccion optico por detecta varios propiedad fisico y kimico di obhetonan door di uza varios caracteristica y fenomenonan astuto. E tin e bentahanan di no-kontakto, presishon haltu, i velosidat haltu, i a wòrdu usá ampliamente den produkshon industrial, kontrol di kalidat, investigashon sientífiko i otro terenonan.
